6.5 浓度结
当导电类型相同但掺杂浓度不同的两种晶体硅相接触时,同样可形成具有电偶层和自建电场的浓度结(也称高低结或梯度结),如图6-12所示。
对于p型硅,热平衡时pp+浓度结界面处的接触势垒高度qVbi2为
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类似于式(6-13),再考虑在热平衡下,多子浓度基本上等于掺杂浓度,pp0≈NA,,即可导出:
![](https://epubservercos.yuewen.com/F2D238/19118078808017706/epubprivate/OEBPS/Images/40104_161_2.jpg?sign=1738933550-9cMLb7SDSO4j6VYecYT8aRQUBHW7s6DT-0-f2b6198745368d86e778e37bab9376f7)
式中,为p+型区的杂质浓度,NA为p型区的杂质浓度。
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图6-12 pp+浓度结能带图
如果在n+p结上再形成pp+结,那么n+pp+结的总内建电势Vbi应为式(6-13)与式(6-113)之和,即
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式中,Vbi1为通常pn结的内建电势。
晶体硅太阳电池往往在靠近背面电极的地方设置高掺杂区,与基区形成浓度结,成为背面场,它不仅可以提高背面电极附近的收集效率,从而增加短路电流,还可以减小饱和电流,从而提高开路电压。